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Handouts

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Eingeladener Vortrag

Defect Oriented Testing

Friedrich HAPKE (Mentor Graphics Hamburg)

Sitzung 1: Robustheit

A Better-Than-Worst-Case Robustness Measure  

Stefan FREHSE (Universität Bremen), Goerschwin FEY (Universität Bremen), Rolf DRECHSLER (Universität Bremen)

Application Dependent Vulnerability of Combinational Circuits  

Rafal BARANOWSKI (Universität Stuttgart), Hans-Joachim WUNDERLICH (Universität Stuttgart)

Adaptive Voltage Scaling for Resilient Applications 

Philipp Klaus KRAUSE (Universität Freiburg), Ilia POLIAN (Universität Freiburg)

 

Sitzung 2: Testdatenkompression und Testkosten

Testdatenkompression mit Hilfe der Netzwerkinfrastruktur 

Viktor FROESE (Universität Paderborn), Rüdiger IBERS (Universität Paderborn), Sybille HELLEBRAND (Universität Paderborn)

Hierarchischer Kompaktor: effiziente Testdatenkompaktierung mit X-Werten an modernen Testern 

Martin HILSCHER (Universität Potsdam), Markus SEURING (Verigy Germany GmbH Böblingen), Andreas LEININGER (Infineon Technologies AG, München), Michael GOESSEL (Universität Potsdam)

Status und zukünftige Herausforderungen für den Produktionstest komplexer SOCs am Beispiel einer Ein-Chip-Lösung für die Mobilkommunikation 

Jürgen ALT (Infineon Technologies AG, München), Frank DEMMERLE (Infineon Technologies AG, München), Hermann OBERMEIR (Infineon Technologies AG, München), Frank POEHL (Infineon Technologies AG, München)

Poster

Entwurf und Einsatzerfahrungen eines flexibel konfigurierbaren PXI Testsystems für on-wafer Messungen im Halbleiterbereich 

Ingo GRYL (IMMS gGmbH, Ilmenau), Gerrit KROPP (IMMS gGmbH, Ilmenau), Roman PARIS (IMMS gGmbH, Ilmenau)

Performantes Testen von fehlertoleranten Hard- und Software-Systemen in der virtuellen Maschine FAUmachine 

Stefan POTYRA (Universität Erlangen), Matthias SAND (Universität Erlangen), Volkmar SIEH (Universität Erlangen), Dietmar FEY (Universität Erlangen)

A Robust VHDL Design & Test Methodology for a Radiation Hardened Diagnosis Device 

Josef SCHMID (iSyst Intelligente Systeme GmbH, Nürnberg), Manfred FELKL (iSyst Intelligente Systeme GmbH, Nürnberg), Peter MUNNINGER (iSyst Intelligente Systeme GmbH, Nürnberg), Chrtistine RAUCH (iSyst Intelligente Systeme GmbH, Nürnberg), Harry UHL (iSyst Intelligente Systeme GmbH, Nürnberg), Hans RAUCH (iSyst Intelligente Systeme GmbH, Nürnberg), Lloyd THOMAS (Ohm-Hochschule Nürnberg), Sotirios VLACHODIAMANTIS (Ohm-Hochschule Nürnberg), Devaraj GOVINDARAJ (RMIT University, Melbourne, Australia)

Modellierung von modularen Testsystemen

Gürkan UYGUR (Universität Erlangen), Sebastian SATTLER (Universität Erlangen), Andreas BRENNEKE (Melexis GmbH, Erfurt)

Anforderungen an Teststrukturlayouts für hochbeschleunigte Zuverlässigkeitstests an Powermetallen 

Verena HEIN (X-FAB Semiconductor Foundries AG, Erfurt)

Sitzung 3: Charakterisierung

Charakterisierung von HF-Zellen verschiedener Technologien unter Nutzung modularer PXI-Testsysteme bis 6 GHz 

Bjoern BIESKE (IMMS gGmbH, Ilmenau), Klaus GILLE (X-FAB Semiconductor Foundries AG, Erfurt)

Standardized Characterisation of Device Power Supplies for Automated Test Generation and Simulation 

Daniel GLASER (Universität Erlangen), Andreas MüLLER (Universität Erlangen), Ping LU (Universität Erlangen), Gürkan UYGUR (Universität Erlangen), Klaus HELMREICH (Universität Erlangen)

Erhöhung der Testqualität für optoelektrische Schaltungen durch Charakterisierung des Strahlprofils 

Marco REINHARD (IMMS gGmbH, Ilmenau), Michael MEISTER (IMMS gGmbH, Ilmenau), Ulrich LIEBOLD (IMMS gGmbH, Ilmenau), Thaden COHRS (IMMS gGmbH, Ilmenau), Dr. Dirk NUERNBERGK (IMMS gGmbH, Ilmenau)

Sitzung 4: Fehlertoleranz und Selbstreparatur

Effiziente Verfahren der Selbstreparatur von Logik 

Heinrich Theodor VIERHAUS (BTU Cottbus), Tobias KOAL (BTU Cottbus), Christian GLEICHNER (BTU Cottbus)

Selbstprüfender Addierer auf der Basis eines Fast Ripple Addierers

Vitaly OCHERETNY (Fraunhofer Institute for Secure Information Technology, Garching)

Auf COTS Komponenten basierende fehlertolerante Rechnerarchitektur für Raumfahrt-Telepräsenzanwendungen 

Jan ORTNER (Universität Erlangen), Jürgen FRICKEL (Universität Erlangen), Sebastian SATTLER (Universität Erlangen), Wolfram GLAUERT (Universität Erlangen), Hans-Rainer GRAF (Diehl BGT-Defence GmbH & Co. KG), Ulrich WALTER (TU München)

Sitzung 5: Simulation und Synchronisation

Elektrische Fehlersimulation digitaler Grundgatter unter Parameterschwankungen - Methodik und erste Ergebnisse 

Fabian HOPSCH (Fraunhofer IIS/EAS, Dresden), Bernd STRAUBE (Fraunhofer IIS/EAS, Dresden), Wolfgang VERMEIREN (Fraunhofer IIS/EAS, Dresden), Michael LINDIG (Fraunhofer IIS/EAS, Dresden), Joachim HAASE (Fraunhofer IIS/EAS, Dresden)

Effiziente Fehlersimulation auf Many-Core-Architekturen 

Michael KOCHTE (Universität Stuttgart), Marcel SCHAAL (Universität Stuttgart), Hans-Joachim WUNDERLICH (Universität Stuttgart), Christian ZOELLIN (Universität Stuttgart)

Synchronization of Multi-Gigabit Transceivers with an Undersampling Test Register 

Martin SCHMIDT (Universität Stuttgart), Damir FERENCI (Universität Stuttgart), Thomas ALPERT (Universität Stuttgart), Markus GROEZING (Universität Stuttgart), Manfred BERROTH (Universität Stuttgart)